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OFDR用於光纖鏈路測量與診斷

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光纖鏈路測量與診斷是OFDR儀器的基本功能之一。 其基於光頻域技術與光外差檢測技術,可快速精準地進行光纖鏈路診斷與宏彎、接頭、連接點等鏈路故障定位,測量各類特殊光纖如光纖光柵的微結構及應用於 光纖干涉儀延遲測量等,具有空間解析度高(10um),測試時間短、測量結果精準等特性。

一、光纖鏈路檢測

測量用光纖鏈路設有熔接點、光開關、斷點等損耗點及宏彎、耦合器、光纖光柵等特殊結構。 使用OCI1500測量,設定空間空間解析度為10μm,測量結果如圖1所示。

 图片1.jpg

1 光纖鏈路測量結果

光纖鏈路中的所有損耗點及特殊結構都能在測量結果中反映出來。 根據橫座標長度值,可以對每個點進行準確定位。

二、光纖光柵微結構及光譜測量

上述測量結果中光纖光柵部分放大,查看微結構及光柵光譜如圖2所示。


图2 A光纤光栅微结构.jpg

A 光纖光柵微結構

 图2 B光纤光栅光谱图(1)(1).jpg

B 光纖光柵光譜圖

2 光纖光柵測量結果

從測量結果可以看出,柵區呈現出規整的鋸齒形,柵長範圍內的每點反射率基本上一致,顯示光柵結構良好。 光柵總長度約1m,柵長約1cm,中心波長約1558nm

三、高密度弱反射光纖光柵測量

取長度為1m的弱反射光纖光柵進行測量,結果如圖3所示。

图3.jpg

3高密度弱反射光纖光柵測量結果

高密度弱反射光纖光柵測量結果與一般光纖光柵類似,差異在於柵距縮小了許多,單位長度內包含的光柵數量更多。 同樣地,柵長範圍內的每點反射率一致,光柵結構良好。 OFDR可以準確的解調出光柵的中心波長,因此也可用於光纖光柵的解調。 高密度弱反射光纖光柵專為高分辨、高精度分佈式光纖溫度與應變測量而設計,弱反射光柵提高了整根光纖的瑞利散射強度,從而增強了系統可探測到有效訊號,瑞利散射信噪比明顯提升,結合先進的OFDR解調技術,非常適合在各種惡劣環境下測量與感測應用。