光纖通信測量系統
光矢量分析系統

光矢量分析系統

型号:OCI-V

產品特點

  • 自動校準

  • 測量長度:200m

  • 波段:C+L、O波段(可選)

  • 1秒內測量多種光學參數


產品應用

  • 平面波導器件

  • 矽光元件

  • 光纖元件

  • 波長可調元件、放大器、濾波器


測量參數

  • 偏振相關損耗PDL

  • 偏光模色散PMD

  • 插損IL

  • 群延時GD

  • 色散CD

  • 瓊斯矩陣參數

  • 光學相位

產品描述

OCI-V是一款快速偵測光學元件損耗、色散和偏振等相關參數的光向量分析系統。 其原理是採用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,並結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。 系統採用獨特光路設計以及先進演算法,實現智慧校準,操作簡單,極大節省測試時間。


標準模式

高動態範圍模式


測量長度1

200 

波段

C+L 波段:1525~1625;O 波段:1268~1340 

nm 

波長解析度 

1.6

pm 

波長精度 

±1.0 

pm 

損耗(IL)

動態範圍

60

801

dB

插損精度

±0.1 

±0.05

dB

解析度

±0.05

±0.002

dB 

回損精度

±0.1 

dB

群延時 (GD)

量程

6

ns 

精度 

±0.2

±0.1

ps 

損耗範圍

45

60

dB 

色散(CD)

精度

±10

±5

ps/nm

偏振相關損耗(PDL)

動態範圍

40

50

dB

精度

±0.05

±0.03

dB

偏振模式色散(PMD)

量程

6

ns

精度

±0.1

ps

損耗範圍

40

50

dB

硬體

主機功率 

60 

通訊接口 

USB 

光纖接口 

FC/APC 

尺寸 

W 450 * D 450 * H 166

mm 

重量 

18.5 

kg 

储藏溫度

0 ~ 50

工作溫度

10 ~ 40

客製功能2 

測量長度

50

100

空間解析度

10 

20

μm 

回損測量範圍

-125 ~ 0

dB

插損動態範圍

18

dB

插、回損解析度

0.05

dB

插、回損精度

±0.1

dB


備註:
 

1. 透射模式測量長度200m, 可拓展反射模式,測量長度為100m;

2. 光向量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能,測量光纖鏈路; 

3. 產品參數均可依使用者需求進行客製化。

注:產品技術規格如有變更,恕不另行通知,如有疑議,請與我司聯繫。